组合电器GIS设备X射线图像缺陷识别方法及系统、存储介质

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组合电器GIS设备X射线图像缺陷识别方法及系统、存储介质
申请号:CN202410708920
申请日期:2024-06-03
公开号:CN118279312A
公开日期:2024-07-02
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电力设备无损探伤检测领域,具体公开了一种组合电器GIS设备X射线图像缺陷识别方法及系统、存储介质,所述方法包括以下步骤:对射线图像进行降噪处理和图像增强;对增强后的图像进行边缘提取得到边缘特征图像;对边缘特征图像进行区域分割;计算区域分割后的缺陷区域的特征向量矩阵;利用区域分割后的缺陷区域图像和特征向量矩阵实现缺陷的识别及不同射线图像缺陷之间的配准。该方案能够对X射线图像进行有效的处理和分析,提高图像的质量和清晰度,自动提取和识别图像中的缺陷,提高无损探伤的效率和准确性。
技术关键词
图像缺陷识别方法 射线 GIS设备 组合电器 区域生长算法 矩阵 非极大值抑制方法 阈值检测方法 缺陷识别系统 无损探伤检测 图像增强模块 直方图均衡化 像素点 计算机存储介质 特征提取模块 脉冲噪声 对比度
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