用于提高微小缺陷目标检测精度的方法

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用于提高微小缺陷目标检测精度的方法
申请号:CN202410711889
申请日期:2024-06-04
公开号:CN118470431A
公开日期:2024-08-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了用于提高微小缺陷目标检测精度的方法,包括以下步骤:图像采集模块进行产品图的采集;将产品图通过预处理模块进行操作,并将处理后的图传递至深度学习训练模块进行特征的训练与学习,等待训练结束后,由深度学习推理模块进行推理其结果;小目标提取模块进行推理结果的筛选;通过输出模块将结果进行返回,该方案通过多种方法结合的形式来提高缺陷检测的精度。
技术关键词
深度学习训练 图像采集模块 训练算法 精度 输出模块 直方图 预训练模型 推理方法
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