一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质

本发明提供的基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质，其中方法步骤包括：迭代计算及ADC工作频率；设ADC芯片工作频率为，读取数据获取输入信号频率点对应的索引值SI；根据FFTL的相位噪声点数据长度是否与RBW重合，记录FFTL中SI第一或第二范围的相位噪声点数据至相位噪声表PNL，并对应跳出循环或继续迭代计算；同理将ADC芯片频率设置为F，获取对应索引值NSI；记录NSI第三范围的相位噪声点数据至PNL中；设置相位噪声索引表PNIL记录PNL中相位噪声点数据value对应的数据索引、测量频率及分辨率带宽；根据value索引PNIL计算对应相位噪声。