芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质

本发明公开了一种芯片的算力性能指标的测试方法、装置和存储介质。其中，该方法包括：对待测试芯片进行分割处理，得到多个单核区域块；分别确定多个单核区域块对应的单核整数算力性能指标和单核浮点算力性能指标，得到多个单核整数算力性能指标和多个单核浮点算力性能指标，其中，单核整数算力性能指标用于指示单核区域块对应的整数计算性能，单核浮点算力性能指标用于指示单核区域块对应的浮点数计算性能；基于多个单核整数算力和多个单核浮点算力，确定待测试芯片的总算力性能指标，其中，总算力性能指标至少包括待测试芯片的整数算力性能和浮点算力性能。本发明解决了芯片算力测试的局限性大的技术问题。