数据校验方法、装置和芯片

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数据校验方法、装置和芯片
申请号:CN202410721528
申请日期:2024-06-04
公开号:CN118519800A
公开日期:2024-08-20
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种数据校验方法、装置和芯片,其中,数据校验方法包括:获取计算核输出的计算结果;基于第一任务,对计算结果进行校验,得到第一校验结果;基于第二任务,对计算结果进行校验,得到第二校验结果;第一任务为计算核的最新计算任务,第二任务为第一任务的前一个计算任务;基于第一校验结果和第二校验结果,确定计算结果的有效性。本申请实施例的技术方案可以避免在计算任务更新阶段由于计算任务与计算结果的对应关系错误而导致误判,从而在保证计算核可以持续计算的情况下,能够避免产生算力损失,提升校验的准确率。
技术关键词
数据校验方法 校验模块 有效性 数据校验装置 输入端 多路复用器 打包模块 输出端 芯片 阶段 关系
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