芯片的验证方法及装置、电子设备与存储介质

一种芯片的验证方法及装置、电子设备与存储介质，该芯片包括多个子模块。该芯片的验证方法包括：建立对应多个子模块中的每个子模块的子模块验证平台，其中，子模块验证平台中包括多个第一验证组件；基于子模块验证平台，建立芯片的验证平台，其中，芯片的验证平台中继承有子模块验证平台中的多个第一验证组件；基于芯片的验证平台，建立芯片的测试集；使用芯片的测试集执行芯片的测试。该芯片的验证方法通过在芯片的验证平台中复用子模块的验证平台，可以在较短时间内实现较高的验证覆盖率，从而有效提升了验证质量和验证效率。