测试装置及智能感测装置

本公开涉及一种测试装置及智能感测装置，测试装置包括感知控制芯片、仿真数据存储器、芯片工作数据存储器、选择开关和判断器，感知控制芯片用于根据获取的采样数据生成用于指示是否有接近事件的结果信号；仿真数据存储器用于存储仿真测试数据；芯片工作数据存储器用于存储目标测试数据；选择开关用于将仿真测试数据或目标测试数据提供给感知控制芯片，使得感知控制芯片生成相应结果信号；判断器用于根据仿真测试结果信号及目标测试结果信号判断感知控制芯片是否满足测试标准要求。可以在满足低功耗的条件下，至少可以实现芯片数据处理流程正确性验证、判断芯片是否符合测试要求并且可以利用芯片实际信号数据实现对数据处理的算法的验证。