一种适用于半导体器件的填埋扇出式封装方法及装置

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一种适用于半导体器件的填埋扇出式封装方法及装置
申请号:CN202410734128
申请日期:2024-06-07
公开号:CN118315282B
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种适用于半导体器件的填埋扇出式封装方法及装置,方法包括准备冷却基板和半导体器件;在冷却基板上按照第一预设参数刻蚀散热通道;基于散热通道的刻蚀终点,在冷却基板上按照第二预设参数刻蚀散热微通道,使散热微通道与散热通道连通;将半导体器件连接在冷却基板靠近散热微通道的一侧;在冷却基板刻蚀有散热通道的一侧贴装芯片粘贴膜;将带有半导体器件的冷却基板通过芯片粘贴膜填埋至转接板内,并使散热通道与外界连通。通过本申请提供的封装方法,解决了传统填埋扇出式封装中降低了芯片的可靠性及DAF贴装困难的问题。
技术关键词
半导体器件 封装方法 通道 粘贴膜 基板 表面贴装芯片 终点 气相沉积技术 参数 转接板 封装装置 封装材料 尺寸 缝隙 阵列 物理
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