一种测试设备

本申请提供一种测试设备。本申请提供的测试设备，用于测试芯片封装结构的扭力；测试设备包括固定架、爪手和控制系统；其中，固定架用于固定芯片封装结构的基板；爪手用于夹持芯片封装结构的散热盖；控制系统包括控制器、与控制器电连接的动力机构；其中，动力机构与爪手机械连接，以驱动爪手；控制器用于响应于第一指令，控制爪手在水平面内旋转，直至包覆在基板内的芯片和散热盖分离，以测试芯片封装结构的扭力；其中，第一指令为用于指示测试扭力的指令。本申请提供的测试设备，能够有效地测量和分析芯片封装结构的扭力，避免人工测试的误差，可以提高测试效率，确保测试的准确性。