一种集成三维电容的TSV转接基板及其制备方法

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一种集成三维电容的TSV转接基板及其制备方法
申请号:CN202410738883
申请日期:2024-06-07
公开号:CN118658842A
公开日期:2024-09-17
类型:发明专利
摘要
本发明属于立体集成芯片封装技术领域,涉及一种集成三维电容的TSV转接基板及其制备方法。包括高阻硅晶圆,高阻硅晶圆上开设有若干TSV盲孔,TSV盲孔内嵌设有导电金属,高阻硅晶圆一侧开设有高密度阵列电容孔,高密度阵列电容孔上布置三维电容,高阻硅晶圆两侧均布置有再布线绝缘层,再布线绝缘层上布置有焊盘,焊盘连接导电金属和三维电容,三维电容与再布线绝缘层之间设有填充层,具有填充层一侧的第一再布线通过引出结构连接导电金属,引出结构嵌设在填充层内。本发明的TSV转接基板具有高电容密度三维电容,基板表面平整,能够用于数字、射频等芯片的2.5D/3D集成,本发明制备方法能够与TSV制备工艺相兼容。
技术关键词
电容 基板 布线 高密度 导电 集成芯片封装技术 电学引出结构 氧化层 阵列 光刻技术制作 湿法刻蚀技术 焊盘 胶膜 工艺相兼容 基底 机械抛光 正面 介质 掩模 立体
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