一种芯片功耗测试方法、云操作系统及计算平台

本发明属于芯片功耗测试技术领域，尤其是芯片功耗测试方法、云操作系统及计算平台，针对现有的芯片功耗测试过程中，无法通过大数据分析工具和算法对功耗数据进行分析，进而导致芯片测试的准确性较低的问题，现提出如下方案，其包括以下步骤：S1：搭建功耗测试系统，功耗测试系统包括采集模块、静态功耗采集模块、动态功耗采集模块、温度测试模块、性能测试模块、负载测试模块、数据分类模块和分析模块；S2：通过静态功耗采集模块和动态功耗采集模块对芯片的静态功耗和动态功耗信息数据进行采集，本发明能够在芯片功耗测试过程中，通过大数据分析工具和算法对功耗数据进行分析，进而可以提高芯片测试的准确性。