一种负偏压能力测试方法、装置、设备及存储介质

本发明涉及电子电路技术领域，本发明公开了一种负偏压能力测试方法、装置、设备及存储介质，包括预设测试温度集；根据测试温度集中的每一个测试温度，对HVIC芯片进行负偏压能力测试，以生成对应的测试结果；汇总所有的测试结果，以得到测试结果集；对测试结果集进行合格判断，以得到合格判断结果；通过预设测试温度集并在不同温度条件下对HVIC芯片进行全面的负偏压能力测试，充分考量温度因素对HVIC芯片VS负偏压能力的影响，从而精准地检测出HVIC芯片在不同温度下的VS负偏压能力特性，从而有效筛选出VS负偏压能力合格的产品。