多通道芯片性能的验证处理方法、装置、设备及介质

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多通道芯片性能的验证处理方法、装置、设备及介质
申请号:CN202410749886
申请日期:2024-06-12
公开号:CN118607466A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种多通道芯片性能的验证处理方法、装置、设备及介质,所述方法包括:编写一个静态测试用例和一个动态测试用例;针对静态测试用例,利用多种通道生成规则衍生出多个不同通道使能配置的测试用例,以验证该多通道芯片在各种通道使能静态配置下的工作状态;针对动态测试用例,基于设定的验证规则,在仿真过程中动态切换改变通道使能配置,以验证该多通道芯片在通道使能动态配置下的工作状态;通过上述方法,极大地提高了多通道芯片的通道组合覆盖率和通道翻转覆盖率,同时提高了多通道芯片实际工作中的鲁棒性,进而有力保障了多通道芯片的验证质量和验证效率。
技术关键词
多通道 配置测试用例 生成规则 验证规则 动态 计算机程序产品 检测芯片 随机方法 可读存储介质 覆盖率 生成随机 元素 存储器 处理器 脚本 指令 鲁棒性
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