一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质

本发明公开了一种芯片污渍检测方法、装置、计算机设备及存储介质，属于芯片外观检测技术领域。针对现有技术中存在的芯片表面微小污渍难以检测存在漏检的问题，本发明通过设定数字图像重构距离，输入全息图像与数字图像重构距离，计算得到频谱图，对频谱图选频处理得到全息重构图，分离全息重构图得到重构强度图和包裹相位图，对包裹相位图处理得到解包裹相位图，通过重构强度图判断待检测芯片上是否存在污渍，若待检测芯片上存在污渍，通过解包裹相位图判断污渍为内表面污渍或外表面污渍，从而实现快速准确地检测出芯片内表面或外表面微小污渍，有效提高芯片污渍检测效率和检测精度。