基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法

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基于改进ω-k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法
申请号:CN202510185063
申请日期:2025-02-19
公开号:CN120103334B
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于改进ω‑k算法的合成孔径雷达大斜视成像方法。本发明中,首先在大斜视SAR成像过程中,基于预设的斜视SAR观测几何模型以及雷达工作参数之间定量化的约束关系,以获取目标场景区域有效的原始回波数据。接着依次执行多普勒中心估计与补偿、一致压缩、补余压缩、方位向位置校正和距离向位置校正,其中一致压缩和补余压缩分别通过在二维频率参考函数相乘和Stolt插值实现,方位向位置校正在方位频域内实现,距离向位置校正通过重构距离向采样栅格实现。针对大斜视导致目标方位位置和距离位置产生的偏移,将校正过程嵌入到ω‑k算法的成像流程中,实现二维位置的校正,最终得以获取位置无偏移、高分辨率的SAR图像。
技术关键词
斜视成像方法 合成孔径雷达 位置校正 线性调频信号 二维快速傅里叶变换 波束 视角 多普勒 回波 采样率 天线 坐标 频率 校正模块 数据 算法 重构
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