测试方法、电子设备、存储介质及芯片

本申请公开了一种测试方法、电子设备、存储介质及芯片。该方法应用于待测试设备，包括：在待测试设备上电开机过程中，在待测试设备的第一软件层运行第一服务，且待测试设备的第二软件层中创建有第一文件目录的情况下，在待测试设备的第三软件层中创建指令通信端口，第三软件层是待测试设备的加载层、内核层和加载层，其中，第一软件层，第二软件层和第三软件层同层，或第一软件层和第二软件层是第三软件层的下层；接收来自测试设备的用于指示对第一测试对象测试的第一测试指令；响应于接收第一测试指令，通过指令通信端口将第一服务从第一文件目录中获取的测试参数发送给测试设备。基于本申请提供的测试方法可以提高测试效率。