IGBT芯片表面镀铜后焊接铜片进行铜线键合工艺

AITNT
正文
推荐专利
IGBT芯片表面镀铜后焊接铜片进行铜线键合工艺
申请号:CN202410758002
申请日期:2024-06-13
公开号:CN118800669A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了IGBT芯片表面镀铜后焊接铜片进行铜线键合工艺,本发明涉及半导体封装技术领域,包括以下步骤:表面镀铜,将半导体基板进行芯片封装,封装后进行表面镀铜,并开设封装的铜线槽,在铜线槽开设后再在铜线槽的上方开设镍线槽;焊接键合,将劈刀移至芯片焊盘的位置,使用表面镀铜的纯铜线构成的焊线线材制作第一个焊点的焊球,将键合处焊线区分,完成焊线线材的走线,实现完整的铜线键合工艺。该IGBT芯片表面镀铜后焊接铜片进行铜线键合工艺,能够延缓铜线表面出现氧化,提高键合工艺的可靠性和电导率,有助于提高芯片封装的抗拉强度,也避免芯片封装时出现铜线打线不粘和弹坑这种失效模式,增加芯片封装的可靠性。
技术关键词
焊线线材 铜线槽 IGBT芯片表面 焊点 铜片 芯片封装 半导体基板 劈刀 半导体封装技术 铜线表面 粗铜线 阶段 回路 电流 焊球 焊头 元素
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种球栅阵列封装芯片的填充胶填充方法及其填充组件
球栅阵列封装芯片 填充方法 填充胶 基板 填充区
2
引线键合机线弧参数补偿方法、装置、计算机设备及介质
参数补偿方法 计算机可读指令 补偿值 计算机设备 芯片
3
一种基于X射线成像的BGA焊点分割方法及系统
X射线成像 BGA焊点 分割方法 深度卷积神经网络 卷积模块
4
一种基于NSGA-Ⅱ遗传算法的叠层焊点应力与回波损耗双目标优化方法及存储介质
焊点结构参数 叠层 遗传算法 应力 数学模型
5
线束拓扑图的生成方法、装置、设备、介质及程序产品
拓扑图 焊点 分段 计算机执行指令 三维模型
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号