激光跟踪仪多站测量方法

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激光跟踪仪多站测量方法
申请号:CN202410761013
申请日期:2024-06-13
公开号:CN118602945A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
激光跟踪仪多站测量方法,解决了现有激光跟踪仪多站测量方法难以满足现场大尺寸工件测量的问题,属于测量技术领域。本发明包括:搭建顺次多站测量系统;在多站测量系统的空间区域内移动激光跟踪仪,测得每一个站位点到各个公共点的距离值,确定全局坐标系中各公共点的理论坐标值;在已标定出公共点基础上,以激光跟踪仪最小的PDOP值确定最优站位;待激光跟踪仪移动到最优站位附近后,使用激光跟踪仪测量公共点的坐标值,并使用SVD法求解转换参数。计算转站后激光跟踪仪测量的公共点与多站测量的公共点的误差,作为该点的权重,求解移动后激光跟踪仪准确的转换参数。本发明提高了激光跟踪仪多站测量精度。
技术关键词
激光跟踪仪 测量方法 环境系统 存储设备 材料线膨胀系数 矩阵 坐标系 参数 大尺寸工件 壳体 加权算法 理论 处理器 误差 方程 非线性 Y轴
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