InP高电子迁移率晶体管基于碰撞电离效应的拟合噪声模型

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正文
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InP高电子迁移率晶体管基于碰撞电离效应的拟合噪声模型
申请号:CN202410761671
申请日期:2024-06-13
公开号:CN118520830A
公开日期:2024-08-20
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体器件领域,具体提供一种InP高电子迁移率晶体管基于碰撞电离效应的拟合噪声模型,其噪声网络包括:栅极寄生热噪声电压源漏极寄生热噪声电压源源极寄生热噪声电压源栅极散粒噪声电压源漏极沟道热噪声漏极碰撞电离噪声电流源本发明将栅极噪声电流简化为一个不随频率变化的白噪声,表征了栅极漏电流产生的散粒噪声,设置漏极噪声电流源为白噪声与洛伦兹形噪声的叠加,对沟道热噪声、碰撞电离产生的噪声进行表征,可对NFmin和Rn随频率增大而减小的趋势进行拟合,在保证精度的前提下得到简单有效的噪声模型。
技术关键词
电子迁移率晶体管 热噪声 噪声模型 噪声电流源 噪声温度 散粒噪声 噪声参数 节点 电压 效应 数据拟合方法 网络 栅极漏电流 噪声电阻 电容 噪声源
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