芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质

本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试方法、系统、终端设备及存储介质，其中，方法应用于测试板，测试板包括主控芯片和被测芯片，包括：若主控芯片进入DFT测试模式，则根据DFT原始测试数据，获得DFT目标测试数据；运行DFT测试程序，通过被测芯片的DFT测试输入接口，将DFT目标测试数据输入至被测芯片；通过被测芯片的DFT测试输出接口，获取被测芯片的DFT实测数据；最后根据DFT实测数据与DFT预测数据的对比结果，获取被测芯片的DFT测试结果并输出。本申请实施例可以有效提高整个芯片测试的测试效率。