一种钼铁合金的成分含量精确测量方法及系统

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一种钼铁合金的成分含量精确测量方法及系统
申请号:CN202410763907
申请日期:2024-06-14
公开号:CN118329807B
公开日期:2024-08-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光谱分析技术领域,具体涉及一种钼铁合金的成分含量精确测量方法及系统。该方法包括:获取至少两个已知磷元素含量的试验样本的光谱数据,确定目标波段和反射率;对光谱数据进行分析确定待测数据的样本可靠系数;对目标波段进行分析确定每一目标波段的回归贡献度;综合确定每一光谱数据在每一目标波段的影响因子;根据所有光谱数据在所有目标波段的影响因子,构建核回归模型,根据核回归模型对未知磷元素含量的试验样本进行磷含量分析,得到测量结果。本发明能够自适应构建核回归模型,有效规避杂质影响和波段重叠影响等误差的干扰,提升核回归模型的可靠性,增强后续磷含量分析所得到测量结果的精确性。
技术关键词
核回归模型 精确测量方法 成分含量 反射率差异 样本 铁合金 数据 皮尔逊相关系数 指标 元素 精确测量系统 因子 光谱分析技术 数值 高斯核函数 协方差矩阵 处理器
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