一种汽车电子芯片的测试方法、装置及设备

本申请适用于芯片检测技术领域，提供了一种汽车电子芯片的测试方法、装置及设备，该方法包括：获取多个汽车电子芯片的初始标记数据；在任意一个汽车电子芯片的初始标记数据指示初始测试结果合格的情况下，若任意一个汽车电子芯片的至少一个测试项对应的测试值为临界合格值，则将任意一个汽车电子芯片确定为目标电子芯片，并对其进行零件平均测试，得到与目标电子芯片对应的零件平均测试值；根据零件平均测试值与预设阈值的比较结果，得到与目标电子芯片对应的最终测试结果。通过对至少一个测试项对应的测试值为临界合格值的汽车电子芯片进行零件平均测试，重新判断该汽车电子芯片是否为合格，来提高汽车电子芯片性能测试的准确率和效率。