一种芯片测试数据分析方法及系统

本发明公开了一种芯片测试数据分析方法及系统，将芯片测试设备测试产生的数据收集，对采集数据进行初步筛选处理，提取处理后的数据进行分析操作，本发明涉及数据处理技术领域。该芯片测试数据分析方法及系统，通过对采集数据进行初步筛选处理，提取处理后的数据建立评估曲线，而后自数据库提取比对阈值，经过数据比较后确定异常芯片，提取与异常芯片的相关数据，通过数据分析判断异常情况是否可以修复，依据结果生成划分指令，以此不仅快速、有效的完成对芯片异常的确定，并便于定位到异常芯片的位置，同时针对于异常芯片的焊接情况作出判断，实现筛分后进行二次修复，提高效率的同时保障芯片的再利用率。