摘要
本发明提供一种具有宽损耗测试范围的材料复介电常数测试装置及方法,属于微波测试技术领域。该装置通过在圆柱腔的顶部端面中心和径向方向上设置中心孔及多个偏心孔,将待测样品加载于圆柱腔中心孔处或偏心孔处,使得圆柱腔内TM0n0模式能够起振,从而实现对待测样品的介电常数的测量;同时建立了待测样品放置于偏心孔时的微扰算法,使得同一圆柱腔能够同时满足高、中、低损耗材料复介电常数测试需求。
技术关键词
样品座
通孔
谐振
微波测试技术
品质因数
复介电常数
测试方法
损耗
频率
模式
空腔
偏心孔
电场
腔体
真空
尺寸
波长
算法
系统为您推荐了相关专利信息
非线性时间序列分析
锥形能带
闭环磁路
电机绕组
继电器
运算放大器
电阻
感应模块
解调模块
电涡流传感器
压力传感器
衬底
图形化光刻胶
刻蚀工艺
制作介质层