一种高集成度半导体芯片安全检测系统和方法

本发明中提供了一种高集成度半导体芯片安全检测系统和方法，所述系统包括，物理安全测试模块、功能安全测试模块、侧信道攻击测试模块、软件安全分析模块、安全认证模块和可视化模块，通过评估所述芯片的物理安全性，根据敏感区域的电磁分析判断芯片的物理安全性，验证芯片的功能安全性，检测存在的漏洞和后门，根据芯片在运行时产生的物理特征，推断设备内部的敏感信息，包括密钥和数据，评估所述芯片相关的软件包括检测存在的漏洞、后门和恶意代码，对用户进行安全认证和密钥管理；根据芯片整体安全性评估输出分析报告，用户通过可视化面板进行查阅和分析，通过本发明，可以有效减少芯片安全威胁和攻击的可能性，确保芯片运行的可靠性和可信性。