一种超分辨率偏振成像测量系统与算法

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正文
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一种超分辨率偏振成像测量系统与算法
申请号:CN202410792552
申请日期:2024-06-19
公开号:CN118817615A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及偏振光学成像技术领域,公开了一种超分辨率偏振成像测量系统与算法,该系统包括光源、具有旋转结构和内置起偏线偏振片的起偏器、具体旋转结构和内置检偏线偏振的检偏器、检测样本和工业相机,其中所述起偏器和检偏器包括单偏转模式和双偏转模式,起偏器和检偏器中的旋转机构包括可以控制旋转的具有同轴旋转运动的电控旋转台,起偏器和检偏器中的线偏振片分别与对应的电控旋转台的中心固定,电控旋转台控制线偏振片进行周期性旋转,每次固定角度旋转后使工业相机进行进行一次采图,多次采样得到多幅图片带有不同偏振信息的图像,之后根据采样得到图像进行算法计算;本发明具有低成本,高感光性,简洁性与高分辨率的优点。
技术关键词
检偏器 超分辨率 工业相机 偏振片 斯托克斯参量 偏振光学成像技术 旋转结构 亮度 同轴旋转 算法 旋转台 图谱 透光率 模式 线偏振 像素点 周期性 图像处理
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