芯片测试数据的处理方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片测试数据的处理方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。通过在检测到测试机执行芯片测试任务的情况下，采集测试机执行芯片测试任务所产生的芯片测试数据，基于预设的统计指标，对芯片测试数据进行统计处理，得到与统计指标对应的指标参数，在预先配置的数据展示页面中显示芯片测试任务的统计指标和对应的指标参数，由于数据处理终端通过Socket与测试机进行通信，从而可以实现对芯片测试数据的实时采集及观测分析，使得测试人员可以直观地了解芯片的测试过程，且无需人工录入数据，提高了数据处理的效率和及时性。