一种芯片测试系统及方法

本发明公开了一种芯片测试系统及方法，所述系统包括：PC机、测试平台、电源控制模块、数据接收模块、数据分析模块和环境控制模块；所述方法包括如下步骤：步骤S1：准备阶段，将待测芯片放置在测试平台上，并连接好电源，将电源控制模块和环境控制模块设为工作状态；步骤S2：参数设置阶段，电源控制模块根据具体的测试需求对芯片的运行参数进行设置；步骤S3：测试阶段，将芯片进行多种测试，数据接收模块实时接收数据，并将数据记录至存储单元中；步骤S4：由所述数据分析模块对数据进行分析和比较，计算得出芯片性能信息；步骤S5：结果显示。通过测试系统与拉力机测试的结合，提高芯片测试的智能化程度，提高芯片测试的效率和准确性。