接口测试方法、装置、电子设备及介质

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接口测试方法、装置、电子设备及介质
申请号:CN202410815718
申请日期:2024-06-24
公开号:CN118568000A
公开日期:2024-08-30
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种接口测试方法、装置、电子设备及介质,涉及接口测试领域,获取接口数据,根据预设的用例生成算法生成所述接口数据对应的自动测试用例;执行所述自动测试用例,得到第一测试结果;接收所述接口数据对应的手动测试用例,执行所述手动测试用例,得到第二测试结果;响应于所述第一测试结果及所述第二测试结果均为测试通过,生成并输出自测通过的接口测试结果。通过上述方案,测试过程中同时采用自动测试用例与手动测试用例,提高了测试的覆盖率,进而提高了测试的准确性。
技术关键词
接口测试方法 生成算法 接口测试装置 测试模块 电子设备 数据获取模块 计算机 处理器 字段 输出模块 覆盖率 存储器 介质 指令 程序
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