封装结构及其形成方法

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封装结构及其形成方法
申请号:CN202410815905
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118782482A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
一种封装结构及其形成方法,所述形成方法,提供基板、半导体芯片和金属柱后,将半导体芯片和金属柱贴装在基板的上表面;在基板的上表面形成包覆半导体芯片以及金属柱侧壁表面的塑封层;在半导体芯片上方的塑封层表面形成凹槽;提供电感器,具有贯穿顶部表面和底部表面的贯穿孔,贯穿孔周围的底部表面具有连接焊盘;将电感器贴装在塑封层的上表面,使贯穿孔位于凹槽上方,连接焊盘与金属柱的顶部表面焊接在一起;提供连接件,连接件中具有注胶孔;将连接件装入贯穿孔内,通过连接件的注胶孔向凹槽内注胶,形成将连接件和塑封层固定的第一胶合层;形成将连接件与电感器固定的第二胶合层。该方法能防止电感器与基板上的金属柱之间的焊接点断裂。
技术关键词
半导体芯片 封装结构 电感器 基板 尺寸 焊盘 凹槽 电感线圈 焊料 导流槽 高分子材料 框架 磁性材料 注胶 网格 陶瓷
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