一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置

本申请公开了一种磁盘阵列芯片的测试方法及装置，在执行该方法时，上位机首先将测试程序下载至待测磁盘阵列芯片中；接着待测磁盘阵列芯片根据测试程序对磁盘进行测试，得到待测磁盘阵列芯片的测试数据；然后待测芯片基台将测试数据发送给上位机；最后上位机将预先存储的待测磁盘阵列芯片的数据标准值与所述测试数据进行比对计算，进而判断待测磁盘阵列芯片测试是否通过。通过上述方式，通过上位机与待测芯片基台之间的交互，实现对待测磁盘阵列芯片的测试，并通过上位机对测试数据进行计算分析待测磁盘阵列芯片的测试结果，不需要人工去分析和判断，缩短了对待测磁盘阵列芯片测试时间，进而提高磁盘阵列芯片的测试效率。