一种基于超表面的双偏振模式识别方法

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一种基于超表面的双偏振模式识别方法
申请号:CN202410828920
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118573288A
公开日期:2024-08-30
类型:发明专利
摘要
本发明属于微纳光学和模式识别技术领域,公开了一种基于超表面的双偏振模式识别方法。本发明所述方法利用偏振敏感的超表面器件,将光纤中的多种偏振模式分别聚焦于透射空间中同一远场平面上的不同区域,实现对光纤中各个模式类型及其偏振状态的识别。本发明所述方法拓展了光纤模式识别器件的功能自由度,降低了光纤模式识别平台的设计复杂度,促进了光纤模式复用及解复用系统的小型化和集成化。本发明在光纤通信、模式识别、物体分类以及信息加密等领域有着深刻的研究价值和广阔的工业前景。
技术关键词
纳米单元结构 超表面 模式识别方法 少模光纤 模型识别方法 平台 模式识别技术 微纳光学 复用系统 基底 参数 传播算法 周期 尺寸 通道
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