模型训练方法、缺陷分类方法、电子设备和存储介质

本申请公开一种模型训练方法、缺陷分类方法、电子设备和存储介质，应用于包括注意力掩膜分支模块、缺陷特征语义模块和分类模块的第一缺陷分类模型，训练方法包括：获取带有缺陷标签的缺陷图像和对应的设计图像；基于缺陷图像和设计图像，获取融合图像；利用注意力掩膜分支模块获取与融合图像对应的第一掩膜图像；利用缺陷特征语义模块对融合图像和第一掩膜图像进行图像处理，得到缺陷局部形态特征图和缺陷相对位置特征图；利用分类模块对缺陷局部形态特征图和缺陷相对位置特征图进行缺陷预测，得到预测结果；基于预测结果与缺陷标签，对第一缺陷分类模型进行模块参数调整，得到最终的缺陷分类模型。提供一种对缺陷图像进行缺陷识别的模型。