电路板的缺陷检测方法、电子设备和存储介质

本申请提供一种电路板的缺陷检测方法、电子设备和存储介质，缺陷检测方法包括：获取在检电路板的关联映射数据；其中，关联映射数据是与在检电路板上第一缺陷图像对应的第一缺陷向量和缺陷标签之间映射关系；基于在检电路板的产品型号，确定至少一个待检电路板；获取与各待检电路板上第二缺陷图像对应的第二缺陷向量；基于关联映射数据，确定与第二缺陷向量对应的缺陷标签。通过上述缺陷检测方法，可以通过当前在检测的电路板的第一缺陷向量和缺陷标签之间的映射关系，确定与在检电路板同型号的等待检测的电路板的缺陷标签，也即利用在检电路板的在线数据，确定待检电路板的缺陷标签，提高对电路板缺陷检测的效率和准确率。