用于芯片数据验证的方法及计算设备

本发明提供一种芯片数据验证的方法和计算设备，所述方法包括：获取验证平台的标准参考数据；在量化模块插入数据比对探针，以获取量化前数据；获取芯片计算出的最终数据；通过所述标准参考数据和所述数据比对探针，判断仿真结果是否正确；其中，判断所述量化前数据和所述最终数据都正确，则判定仿真结果正确；判断所述量化前数据和/或所述最终数据不正确，则判定仿真结果错误，验证停止并定位错误位置；判断所述量化前数据和所述最终数据是否正确的过程为同时进行。根据本发明的技术方案，能够提高验证数据比对正确性，优化数据验证质量。