多芯片高密度连接的光刻技术实现方法

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多芯片高密度连接的光刻技术实现方法
申请号:CN202510840451
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120779677A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了多芯片高密度连接的光刻技术实现方法、芯片级芯片互连方法、掩膜版线条的制作方法以及光刻设备,光刻技术实现方法包括:选择第一掩膜版通过第二对准标记与第一原有图形单元对准曝光,将第一掩膜版图形转移到第一曝光区域;将衬底纵向移动M倍原有图形纵向尺寸对准曝光并横向移动1倍原有图形横向尺寸对准曝光,完成其它M×1芯片组曝光区域的曝光;选择第二掩膜版通过第二对准标记与第一原有图形单元对准曝光,将第二掩膜版图形转移到第二曝光区域;将衬底横向移动N倍原有图形横向尺寸对准曝光并纵向移动1倍原有图形纵向尺寸对准曝光,完成其它1×N芯片组曝光区域的曝光。本方案实现了多芯片高密度互连。
技术关键词
线条 对准标记 衬底 光刻设备 光刻技术 芯片互连方法 半导体芯片 尺寸 对准偏差 掩膜版图形 多芯片 载物台 互连线 高密度互连 数值 半导体结构
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