摘要
本申请公开了多芯片高密度连接的光刻技术实现方法、芯片级芯片互连方法、掩膜版线条的制作方法以及光刻设备,光刻技术实现方法包括:选择第一掩膜版通过第二对准标记与第一原有图形单元对准曝光,将第一掩膜版图形转移到第一曝光区域;将衬底纵向移动M倍原有图形纵向尺寸对准曝光并横向移动1倍原有图形横向尺寸对准曝光,完成其它M×1芯片组曝光区域的曝光;选择第二掩膜版通过第二对准标记与第一原有图形单元对准曝光,将第二掩膜版图形转移到第二曝光区域;将衬底横向移动N倍原有图形横向尺寸对准曝光并纵向移动1倍原有图形纵向尺寸对准曝光,完成其它1×N芯片组曝光区域的曝光。本方案实现了多芯片高密度互连。
技术关键词
线条
对准标记
衬底
光刻设备
光刻技术
芯片互连方法
半导体芯片
尺寸
对准偏差
掩膜版图形
多芯片
载物台
互连线
高密度互连
数值
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