不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法

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不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法
申请号:CN202410841915
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118840411A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种不均匀光照条件下的双目视觉锪窝孔几何参数测量方法,包括以下步骤:构建HED边缘检测模型,对双目相机拍摄的待测孔图像进行边缘检测,得到粗边缘结果;提取粗边缘的骨架信息以细化边缘;基于八邻域跟踪法对细化后的边缘进行进一步后处理,得到单一边界点集,对单一边界点集通过角点分割并重新连接曲线段以优化出满足条件的曲线段;基于孔表面的不均匀光照特性选取最优曲线段进行锪窝孔拟合;依据双目图像中的锪窝孔拟合结果重建孔的三维特征并求解孔的几何参数。与现有技术相比,本发明具有等优点。
技术关键词
参数测量方法 曲线 边缘检测模型 光照 坐标系 视觉 双目相机 一致性算法 图像 边缘轮廓 距离信息 锪窝深度 矩阵 代表 垂直度 基准 训练集
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