半导体单元串联闪存信号测试方法和计算机程序产品

本发明实施例提供了一种半导体单元串联闪存信号测试方法和计算机程序产品，涉及半导体单元串联闪存信号测试技术领域，利用主控芯片的数据质量同步训练模块和读训练模块，在参考电压下，及用户可寻址空间范围内，针对多个延迟场景分别写入第一随机码型和第二随机码型；将半导体单元串联闪存切换为低速模式，并在低速模式下，读取第一随机码型，以确定第一误码数据；将半导体单元串联闪存切换为待测速率模式，并在待测速率模式下，读取第二随机码型，以确定第二误码数据；基于第一误码数据和第二误码数据生成针对半导体单元串联闪存的测试结果，实现了基于延迟扫描和电压扫描生成测试结果，从而提升了测试结果的准确性。