基于自适应双背景模型的遗留物检测方法

AITNT
正文
推荐专利
基于自适应双背景模型的遗留物检测方法
申请号:CN202410851407
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118864810A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本发明的实施例提供了一种基于自适应双背景模型的遗留物检测方法。所述方法包括获取输入场景图像,构建双背景模型;获取双背景模型的状态信息,输入到改进的PFSM模型,输出可疑对象;将所述可疑对象输入YOLOv5模型,输出检测层;对检测层进行回归、定位和分类操作,得到遗留物检测结果。以此方式,可以较好地适应公共场所的复杂变化,有效改善了遗留物检测方法虚警率较高的问题。
技术关键词
双背景模型 遗留物检测方法 混合高斯模型 像素点 对象 信息熵 图像 协方差矩阵 动态 因子 参数 场景 周期 密度 光照 变量 物体 速率
系统为您推荐了相关专利信息
1
基于多模态遥感大模型的动态权重调整病虫害监测方法和系统
病虫害监测方法 像素 对象 图像 动态
2
一种应用于阿尔茨海默症的基因诊断试剂盒
基因诊断试剂盒 抑郁 引物 高通量基因测序 阿尔茨海默症
3
用于版图处理的方法、设备和介质
决策树模型 拆分方法 策略 节点 测试版图
4
用于作业机械的无序堆叠对象抓取的方法及焊接方法
对象 点云 焊接方法 零件 移动底盘
5
一种基于多线结构光编解码的复杂物体表面三维测量方法
多线结构光 中心线 三维测量方法 编解码 像素点
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号