一种ASIC芯片验证平台及验证方法

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一种ASIC芯片验证平台及验证方法
申请号:CN202410851603
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118898220A
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种ASIC芯片基础验证平台及验证方法,验证平台包括序列单元、测试用例和测试接口,通过序列单元提供ASIC芯片验证的验证序列,在测试用例中配置验证环境,建立测试接口与ASIC芯片之间的信号连接,启动仿真验证,解决了传统UVM验证环境无法直接对ASIC芯片进行验证的问题,通过搭建基础验证环境,在基础验证环境内扩展可以实现专用模块的验证环境,不会增加大量重复的工作,提升验证效率和验证质量,专用模块的设计出现问题时也仅需要维护专属的验证环境,可塑性强,基础验证环境搭建后,根据需要进行配置,对于芯片的快速迭代,验证工程师能更高效完成相应的验证工作。
技术关键词
ASIC芯片 芯片验证平台 测试接口 序列发生器 验证方法 专用模块 基础 监视器 读写器 数据 驱动器 命令 信号 定义
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