电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质

本申请提供一种电量计芯片的烧录、校准和性能测试方法、系统及介质；所述方法包括：获取当前电量计芯片的第一烧录文件和第二烧录文件对应的文件格式和烧录模块，基于文件格式的优先级对各烧录模块进行烧录；然后进入校准模式，根据字节状态位的递增状态，对当前电量计芯片的初始芯片参数进行校准，以获取目标芯片参数，并退出校准模式；再进一步响应于测试指令，对当前电量计芯片的防伪功能和功能保护进行测试。本申请根据文件格式的优先级进行烧录，确保所有必要的软件程序和配置信息被正确写入芯片；通过校准过程确保芯片参数的准确性和可靠性；通过相关功能测试能够提供对电量计芯片的全面评估，确保其正常工作和稳定性能。