一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

本发明提供一种元器件引脚缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及元器件缺陷检测技术领域，所述方法流程为：对引脚定位框进行像素处理和轮廓提取处理，以得到引脚轮廓集合；基于引脚轮廓集合获取包绕面积和凸包面积，并且基于包绕面积和凸包面积计算形变程度；基于引脚轮廓集合获取采样长度内的区域周长，并且基于采样长度内的区域周长计算宽度值；基于引脚轮廓集合获取轮廓周长，并且基于轮廓周长和宽度值计算长度值；基于形变程度、宽度值以及长度值进行引脚缺陷检测，以得到元器件引脚缺陷检测结果。本发明基于深度学习技术、图像处理技术以及工程处理技术进行引脚缺陷检测，解决了元器件生产过程中引脚交叉、弯曲程度难以检测的问题。