一种微波成像系统联合性能优化和资源管控的方法

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一种微波成像系统联合性能优化和资源管控的方法
申请号:CN202410858635
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118859201B
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种微波成像系统联合性能优化和资源管控的方法,首先根据广义波束调控双基SAR几何构型和天线转动系数,导出成像幅宽、分辨率、NESZ和过采样率的解析表达式,然后析成像性能与几何构型、天线转动系数的关系,建立约束单目标优化模型,最后根据优化模型指导广义波束调控双基SAR的资源管控,实现联合性能优化。本发明的方法解决了现有优化方法难以得到成像质量较好结果的问题,解决了现有技术中双基SAR系统自由度较低导致无法较好地实现平台波束脚印协同的问题现有技术中双基SAR系统自由度较低导致无法较好地实现平台波束脚印协同的问题,可用于实现波束调控双基SAR的联合性能优化和资源管控。
技术关键词
表达式 微波成像系统 发射站 波束调控 多普勒 粒子群优化方法 监督学习策略 分辨率 因子 构型 波尔兹曼常数 幅宽 脉冲重复频率 资源 速度 数学模型 脉冲占空比
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