一种芯片测试装置及芯片测试装置的浮动头平衡调节方法

本申请提供一种芯片测试装置及芯片测试装置的浮动头平衡调节方法。所述芯片测试装置包括固定设置的连接板、可升降的浮动头和平衡块。其中，连接板包括基板和用于承载芯片的测试座，基板上设置有上下贯穿的工位窗口，测试座与基板连接并处于工位窗口下方；测试座上设置有芯片承载位并从工位窗口裸露。浮动头包括浮动底座和夹具，浮动底座包括相互远离的第一端和第二端；夹具设置于浮动底座的底面并靠近浮动底座的第一端，用于按压芯片。平衡块设置于浮动底座的第二端下方。本申请的技术方案可以通过平衡块防止浮动头产生倾斜，有效地提高定位精度并防止芯片受损，并且进一步地，还可以适应不同的连接板，确保始终能够为浮动头提供适当的支撑。