一种性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质

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一种性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质
申请号:CN202410877941
申请日期:2024-07-02
公开号:CN118860822A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种性能测试方法、装置、电子设备及计算机可读介质,涉及计算机技术领域,该方法包括:响应于性能测试请求,获取对应的测试场景标识;响应于测试场景标识对应于混合测试场景,获取对应的线程组数量和每个线程组下设置的并发数;根据线程组数量和并发数,确定分配参考值并生成基本线程组;基于分配参考值,确定目标压力机;将基本线程组循环分配至目标压力机,以使目标压力机基于分配到的基本线程组进行发压以执行相应的性能测试。减少了每台压力机并发数的差异,实现均分算法,每个压力机的负载的差异比较小。从而保证对压力机的资源使用均衡,防止压力机出现性能瓶颈。
技术关键词
压力机 测试场景 性能测试方法 标识 测试电子设备 性能测试装置 处理器 计算机程序产品 分配单元 动态 存储装置 介质 瓶颈 算法 资源
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