基于双波长激光调制触发的实时颗粒检测装置及方法

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基于双波长激光调制触发的实时颗粒检测装置及方法
申请号:CN202410883660
申请日期:2024-07-03
公开号:CN118624507A
公开日期:2024-09-10
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种基于双波长激光调制触发的实时颗粒检测装置及方法,涉及颗粒物检测领域,该检测装置的两个激光二极管对待测颗粒发射两束激光光源并通过聚焦透镜进行聚焦准直,两个光电倍增管获取两束激光光源照射颗粒的散射光信号通过双极型三极管逻辑电路产生诱发信号,激活超连续谱照明光源,超连续谱照明光源经过聚焦透镜和非球面透镜后聚焦在待测颗粒位置并产生散射光,非球面透镜聚焦颗粒的散射信号形成准直光束,经过分束器和光阑,通过光谱仪来获取每个粒子的散射光谱,根据获取到的光谱数据,结合机器学习算法模型对颗粒种类进行鉴别。可更稳定准确地区分不同类型的颗粒聚集体,提高颗粒物在线检测与鉴别的准确性和高通量性能。
技术关键词
光电倍增管 机器学习算法模型 激光光源 聚焦透镜 双波长激光 颗粒检测装置 非球面透镜 双极型三极管 散射光 照明光源模块 光谱仪 逻辑电路 半导体激光二极管 颗粒检测方法 超连续谱光源 卷积神经网络模型 信号 分束器
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