一种检测数字集成电路的电源网格缺陷的方法

本发明提供一种检测大规模数字集成电路的电源网格设计缺陷的方法，属于半导体技术领域，包括：步骤1：获取大规模数字集成电路的电源网格设计图像，并对电源网格设计图像进行图像失真矫正处理；步骤2：根据处理后的电源网格设计图像获取电源网格设计数据；步骤3：根据电源网格设计数据基于模式识别技术对数据进行分类，根据分类结果确定电源网格存在的设计缺陷；步骤4：根据设计缺陷的复杂度和规模，选择合适的电源网格算法，对算法进行训练，根据训练后的算法检测大规模数字集成电路的电源网格设计缺陷。解决了出现各种难以检测的某些类型的缺陷，同时电源网格不均匀，这可能导致局部电压过高或过低的情况，从而影响电路性能和可靠性的问题。