IO二级热插拔规格测试方法及系统

本发明提出一种IO二级热插拔规格测试方法及系统，该方法包括：待测器件、辅助器件和比较器，待测器件的IO通过总线与辅助器件的第一IO连接，待测器件的IO通过上拉电阻与第一电源连接，待测器件的IO与比较器的第一输入端连接，比较器的第二输入端与阈值电压连接，比较器的输出端与辅助器件的第二IO连接，其中：根据测试类型，确定待测器件和辅助器件的电源状态；控制第一IO输出高电平；读取第二IO的电平；根据第二IO的电平，调整上拉电阻的阻值，重复上述步骤，直到调整后的第二IO的电平发生转变，得到上拉电阻临界值。本发明主要目的在于提供一种IO二级热插拔规格测试方法，以适应现有集成电路芯片的IO热插拔测试。