摘要
本发明属于半导体技术领域,一种大功率平面深钝化隔离芯片的制备方法,包括如下步骤:S1、在硅片表面形成氧化层;S2、去除正面部分区域的氧化层;S3、通过扩散工艺形成预掺杂区;S4、在硅片表面沉积氮化硅钝化层;S5、去除硅片正面部分区域氮化硅钝化层和氧化层,并进行腐蚀,形成隔离带,且隔离带的深度不小于预掺杂区的深度;S6、通过扩散工艺进行对预掺杂区进行推结处理,形成掺杂区;S7、去除硅片表面的氮化硅钝化层和氧化层;S8、对硅片背面进行掺杂处理;S9、进行二次氧化和沉积保护层;S10、进行金属化处理。本发明中工艺形成的芯片易于封装,封装应力小,可靠性更高,更适合大功率大尺寸平面芯片制造。
技术关键词
掺杂区
隔离带
大功率
氧化层
氮化硅钝化层
芯片
硅片电阻率
二氧化硅
金属化
氮化硅层
硅酸乙酯
正面
大尺寸
炉管
压力
真空
酸碱
低压
系统为您推荐了相关专利信息
大功率芯片
阻挡层
电极
GaAs衬底
负性光刻胶
P型漂移区
电荷存储区
掺杂区
栅极多晶硅层
超结IGBT器件
探测器
涂覆材料
金合金材料
真空度
高精度显微镜