一种大功率平面深钝化隔离芯片的制备方法

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一种大功率平面深钝化隔离芯片的制备方法
申请号:CN202411509711
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119361418A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明属于半导体技术领域,一种大功率平面深钝化隔离芯片的制备方法,包括如下步骤:S1、在硅片表面形成氧化层;S2、去除正面部分区域的氧化层;S3、通过扩散工艺形成预掺杂区;S4、在硅片表面沉积氮化硅钝化层;S5、去除硅片正面部分区域氮化硅钝化层和氧化层,并进行腐蚀,形成隔离带,且隔离带的深度不小于预掺杂区的深度;S6、通过扩散工艺进行对预掺杂区进行推结处理,形成掺杂区;S7、去除硅片表面的氮化硅钝化层和氧化层;S8、对硅片背面进行掺杂处理;S9、进行二次氧化和沉积保护层;S10、进行金属化处理。本发明中工艺形成的芯片易于封装,封装应力小,可靠性更高,更适合大功率大尺寸平面芯片制造。
技术关键词
掺杂区 隔离带 大功率 氧化层 氮化硅钝化层 芯片 硅片电阻率 二氧化硅 金属化 氮化硅层 硅酸乙酯 正面 大尺寸 炉管 压力 真空 酸碱 低压
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