一种存储芯片状态数据的分析方法和系统

本发明公开了一种存储芯片状态数据的分析方法和系统，涉及芯片信息处理技术领域。本发明包括功能板、分析板、芯片装载板、测试板、测试负载板和上位机；测试板通过测试负载板将其可用的测试资源和通道引出，并与芯片装载板连通；功能板上装载有FPGA；分析板与测试板通信连接，用于记录测试板向芯片发送的上层指令，以及记录芯片向测试板反馈的状态表信息，并对上层指令和状态表进行解析，生成芯片的状态数据。本发明通过构建存储芯片分析系统，利用上位机的测试命令、测试特性数据通过测试板写入FPGA的寄存器当中，芯片读取FPGA寄存器中的测试命令和数据开始相应的测试和分析，提高数据分析的准确性和效率。